第一章 单元测试
1、判断题：衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小，而与晶胞中的原子位置无关。
A:对
B:错
正确答案:【对】
2、单选题：有一倒易矢量为g*=2a*+2b*+c*。
A:221
B:220
C:110
D:210
正确答案:【221】
3、单选题：下列条件不属于X射线发生衍射的必要条件。
A:衍射矢量方程
B:布拉格方程
C:劳埃方程+约束性方程
D:厄瓦尔德图解
正确答案:【布拉格方程】
4、单选题：根据晶带轴理论，同一晶带的各晶面与晶带轴的关系为。
A:以60度相交
B:角度不确定
C:平行
D:垂直
正确答案:【平行】
5、单选题：M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称。
A:Kβ
B:Lα
C:Kγ
D:Kα
正确答案:【Kβ
】
6、单选题：有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。
A:4
B:5
C:3
D:6
正确答案:【4
】
7、单选题：体心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是。
A:4
B:8
C:6
D:12
正确答案:【8
】
8、单选题：利用XRD进行分析，下列说法不正确的是。
A:利用谢乐公式计算晶粒大小时晶粒尺寸一般<100nm
B:θ越大，得到的点阵常数越精确
C:根据衍射峰的峰位进行定性分析
D:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
正确答案:【衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关】
9、多选题：用CuKα辐射（λ=0.154 nm）照射Ag（面心立方）求其点阵常数，测得第一衍射峰位置38°，下列说法正确的是。
A:根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°
B:Ag的点阵常数为0.410nm
C: α=β=γ=90°
D:根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）
正确答案:【根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°;Ag的点阵常数为0.410nm; α=β=γ=90°;根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）】
10、单选题：已知Ni对CuKα和CuKβ辐射的质量吸收系数分别为49.03和290cm2/g，若将CuKα辐射的强度降低至入射时的70％需要使用多厚的Ni滤波片。
A:0.001cm
B:0.008mm
C:0.001mm
D:0.008cm
正确答案:【0.008mm
】
第二章 单元测试
1、判断题：单晶衍射花样中所有斑点对应的晶面属于同一个晶带。
A:错
B:对
正确答案:【对】
2、判断题：SAED照片中多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。
A:错
B:对
正确答案:【对】
3、判断题：与X射线衍射相比，电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
A:错
B:对
正确答案:【对】
4、多选题：电子衍射常作为透射电镜的附件使用，请叙述观察薄膜样品的基本要求有（ ）。
A: 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
B:薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
C:样品相对于电子束必须有足够的透明度
D:薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
正确答案:【 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
;薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
;样品相对于电子束必须有足够的透明度
;薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏 】
5、判断题：电子衍射分析只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
A:对
B:错
正确答案:【对】
6、单选题：计算晶面（111）和（100）的晶带轴指数？
A:[01-1]
B: [0-1-2]
C:[211]
D: [210]
正确答案:【[01-1]】
7、多选题：有关电子衍射说法正确的是（）。
A:入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。
B:只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
C:只关心衍射斑点的位置,不关心强度。
D:只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。
正确答案:【入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。;只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。;只关心衍射斑点的位置,不关心强度。】
8、判断题：电子衍射花样中，任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像，放到倍数为相机常数。
A:错
B:对
正确答案:【对】
9、判断题：由于晶体的倒易点阵是三维点阵，如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，这个二维平面叫做零层倒易面。
A:对
B:错
正确答案:【对】
10、判断题：电子衍射操作时采用薄晶样品，可以使衍射晶面和透射电子显微镜入射电子束之间的夹角不精确符合布拉格条件仍能产生衍射。
A:对
B:错
正确答案:【对】
第三章 单元测试
1、判断题：透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
A:对
B:错
正确答案:【对】
2、判断题：能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
A:错
B:对
正确答案:【错】
3、判断题：二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
A:对
B:错
正确答案:【对】
4、判断题：材料吸收电子和吸收光子不同，吸收电子时，入射电子停止运动，停留在材料内部。
A:对
B:错
正确答案:【对】
5、判断题：用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。
A:错
B:对
正确答案:【对】
6、单选题：用来显示组织和细胞的内部超微结构像的电子为（ ）
A:弹性散射电子
B:透射电子
C:入射电子
D:二次电子
正确答案:【透射电子
】
7、单选题：合金钢薄膜中极小弥散颗粒（直径远小于500 nm ）的物相鉴定，可以选择（ ）。
A:X射线衍射线分析
B:紫外可见吸收光谱
C:透射电镜
D:差热分析
正确答案:【透射电镜
】
8、单选题：电子显微镜的分辨率要比光学显微镜的分辨率高，根本原因是（ ）。
A:电子束的穿透力比可见光强
B:电子束的波长可以很小
C: 电子束很容易发生偏转
D:电子束可以聚焦成小到几纳米的束斑
正确答案:【电子束的波长可以很小】
9、多选题：下列说法正确的是（）。
A:TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。
B:TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。
C:SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。
D:EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。
正确答案:【TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。;TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。;SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。;EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。】
10、单选题：在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？
A:XRD
B:SAED
C:SEM（配有能谱分析）
D:TEM
正确答案:【SEM（配有能谱分析）】
第四章 单元测试
1、判断题：在紫外可见吸收光谱中，吸光物质的性质决定吸光物质摩尔吸光系数。
A:对
B:错
正确答案:【对】
2、判断题：振动过程偶极距不发生变化，则不会产生红外吸收峰，是非红外活性的。
A:错
B:对
正确答案:【对】
3、单选题：可用来区别化合物紫外吸收谱带中的π→π*跃迁和n→π*跃迁的是。
A:最大吸收波长
B:摩尔吸收系数
C:半峰宽
D:基线高度
正确答案:【摩尔吸收系数】
4、单选题：双光束分光光度计与单光束分光光度计相比，其突出优点是（ ）。
A:可以抵消吸收池所带来的误差
B:可以采用快速响应的检测系统
C:可以扩大波长的应用范围
D:可以抵消因光源的变化而产生的误差
正确答案:【可以抵消因光源的变化而产生的误差】
5、单选题：紫外光谱是带状光谱的原因是由于（ ）。
A:波长短
B:紫外光能量大
C:电子能级差大
D:电子能级跃迁的同时伴随有振动及转动能级跃迁的原因
正确答案:【电子能级跃迁的同时伴随有振动及转动能级跃迁的原因
】
6、单选题：符合朗伯特-比耳定律的有色溶液稀释时，其最大吸收峰的波长位置（ ）。
A:向长波方向移动
B:不移动，且吸光度值降低
C:不移动，且吸光度值升高
D:向短波方向移动
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